先日開催されたネプコン ジャパンでは多くの方に弊社ブースにお立ち寄りいただき、誠にありがとうございました。

展示会にて弊社X線CTシステム”ＦＦ３５”とともにご紹介した

３つの新技術「Zoom Scan」「Layer Scan」「Speed Mode」について、オンラインセミナーを開催いたします！

見逃してしまった方、内容を復習したい！もっと詳しく知りたい！という方にもおすすめの内容となっておりますので、

皆様のご参加を心よりお待ちしております。

半導体・電子部品・基板実装の故障解析エンジニア必見！！

こんなお悩みはありませんか？

• X線CTで観察しても分解能が足りないから破壊して顕微鏡で観察した方が早い。
• CT撮影は時間がかかるわりに画像がボケていて使い物にならない。

今回のセミナーではコメット・エクスロンの3つの全く新しいCTスキャンテクニックを使うことで、短時間・高倍率CT撮影を可能にする方法をお伝えします。

本セミナーは、Microsoft Teamsのウェビナー機能を使用して開催いたします。

事前登録URLよりご登録いただきますと、参加用URLをお送りいたします。

なお、第1回目と第2回目は同じ内容でございますので、ご都合の良い回にご登録ください。

また、ご登録時にご記入いただく情報は、弊社のパートナー企業様（商社様）と共有させていただく場合がございます。

セミナー終了後には、弊社および弊社パートナー企業様より、製品販売を目的としたご連絡を差し上げる場合がございますので、

あらかじめご了承いただけますようお願い申し上げます。

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